影(yǐng)響塗(tú)層測厚儀因素(sù)的有關說明
瀏覽次數：1842更(gēng)新日期：2016-05-11
塗(tú)層測(cè)厚(hòu)儀基體金屬電性質
基(jī)體(tǐ)金屬(shǔ)的電(diàn)導(dǎo)率對測(cè)量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及(jí)熱(rè)處(chǔ)理(lǐ)方法有(yǒu)關。使用與(yǔ)試(shì)件基(jī)體金(jīn)屬具有相同性(xìng)質的標準片對(duì)儀(yí)器(qì)進(jìn)行(háng)校準(zhǔn)。
塗層(céng)測(cè)厚(hòu)儀基體金屬(shǔ)厚度(dù)
每(měi)一種(zhǒng)儀器都(dū)有一(yī)個(gè)基體金屬(shǔ)的(dí)臨(lín)界(jiè)厚度。大於這個(gè)厚度，測量就不受基(jī)體金(jīn)屬厚度(dù)的(dí)影(yǐng)響(xiǎng)。本儀(yí)器的臨(lín)界厚(hòu)度值(zhí)見附(fù)表(biǎo)1。
塗層測厚儀(yí)邊緣效(xiào)應(yīng)
本(běn)儀(yí)器對(duì)試件表(biǎo)麵(miàn)形狀的陡(dǒu)變敏感。因此在(zài)靠(kào)近(jìn)試(shì)件邊(biān)緣(yuán)或內轉(zhuǎn)角處進行(háng)測(cè)量是不(bù)可靠(kào)的。
塗層測厚儀曲(qū)率
試(shì)件(jiàn)的曲率對(duì)測量有(yǒu)影響(xiǎng)。這(zhè)種(zhǒng)影響總是隨著(zhuó)曲率半徑的減少明(míng)顯地(dì)增大。因(yīn)此(cǐ)，在(zài)彎(wān)曲(qū)試件(jiàn)的表麵上測量(liáng)是(shì)不(bù)可(kě)靠(kào)的。
塗層測厚儀(yí)試件的(dí)變形(xíng)
測(cè)頭會(huì)使軟覆(fù)蓋層試(shì)件變形，因此在(zài)這些試(shì)件上(shàng)測出可靠的數據。
塗(tú)層(céng)測(cè)厚儀表(biǎo)麵(miàn)粗糙(cāo)度
基體(tǐ)金屬和覆蓋(gài)層的(dí)表麵粗糙(cāo)程度對(duì)測(cè)量有影響(xiǎng)。粗糙程(chéng)度增大(dà)，影(yǐng)響增大(dà)。粗糙(cāo)表麵(miàn)會(huì)引起係統誤差和(hé)偶(ǒu)然(rán)誤差(chà)，每(měi)次測(cè)量(liáng)時，在(zài)不(bù)同位(wèi)置上應增加測量的(dí)次(cì)數，以克(kè)服這種偶然誤差(chà)。如(rú)果基體金(jīn)屬粗(cū)糙(cāo)，還(huán)必須(xū)在未塗覆的(dí)粗(cū)糙(cāo)度相類(lèi)似的基(jī)體(tǐ)金屬(shǔ)試(shì)件上取幾個位置(zhì)校(xiào)對儀器(qì)的零(líng)點；或(huò)用對(duì)基(jī)體金(jīn)屬(shǔ)沒(méi)有腐(fǔ)蝕(shí)的溶液(yè)溶(róng)解(jiě)除(chú)去覆蓋層後，再(zài)校對儀(yí)器的零點(diǎn)。
塗層(céng)測厚儀(yí)磁(cí)場(cháng)周圍各種(zhǒng)電(diàn)氣設(shè)備所(suǒ)產生的(dí)強(qiáng)磁場，會(huì)嚴重地(dì)幹擾磁性(xìng)法測(cè)厚工作(zuò)。
塗(tú)層測厚儀附(fù)著(zhuó)物(wù)質本儀器(qì)對那(nà)些妨礙測頭與覆(fù)蓋(gài)層表麵緊(jǐn)密(mì)接觸的附(fù)著物(wù)質(zhì)敏(mǐn)感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以(yǐ)保(bǎo)證儀器(qì)測(cè)頭和被測(cè)試(shì)件表麵直(zhí)接接(jiē)觸(chù)。測(cè)頭壓力(lì)測(cè)頭置(zhì)於(yú)試(shì)件上所施(shī)加的壓(yā)力大(dà)小會(huì)影(yǐng)響(xiǎng)測量的(dí)讀數，因此，要(yào)保(bǎo)持(chí)壓(yā)力恒定(dìng)。
測頭的(dí)取(qǔ)向測頭的放置方式(shì)對測量有(yǒu)影(yǐng)響(xiǎng)。在測量中(zhōng)，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表(biǎo)麵保持(chí)垂直(zhí)。
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