物體反射的輻射(shè)能(néng)量占(zhān)總輻射能量的百分(fēn)比，稱(chēng)為(wéi)反射率。不同物(wù)體的反(fǎn)射(shè)率(shuài)也不同(tóng)，這主要取(qǔ)決(jué)於物體本(běn)身的性質(表麵(miàn)狀況），以(yǐ)及(jí)入(rù)射電(diàn)磁波(bō)的波長和(hé)入射角度，反(fǎn)射率的大小範(fàn)圍(wéi)總(zǒng)是(shì)小於(yú)等(děng)於1，利(lì)用(yòng)反(fǎn)射(shè)率可以(yǐ)判(pàn)斷(duàn)物體的性質。
C84-Ⅲ反射(shè)率測(cè)定(dìng)儀(yí)使(shǐ)用(yòng)方(fāng)法：
1，把(bǎ)探(tàn)頭與電(diàn)控(kòng)箱連(lián)接(jiē)，同(tóng)時(shí)接(jiē)上(shàng)電(diàn)源(yuán)，開機(jī)預熱10-15分鐘(zhōng)。此時(shí)應把(bǎ)探頭(tóu)放在(zài)黑色(sè)標準(zhǔn)板上為(wéi)佳。
2，校零：把探頭放在黑(hēi)色(sè)標準板(bǎn)上，調整(zhěng)主機(jī)上的校零旋鈕(niǔ)，使(shǐ)主機(jī)數(shù)字顯示(shì)為000.0，允許變動(dòng)±0.1.
3，校(xiào)正標(biāo)準(zhǔn)值(zhí)：把(bǎ)探頭放(fàng)在(zài)白色(sè)標準(zhǔn)板上，調整(zhěng)主機(jī)的(dí)校標旋鈕，使(shǐ)主機(jī)顯示(shì)的(dí)數(shù)值(zhí)與(yǔ)白色標(biāo)準(zhǔn)板的(dí)標定(dìng)*。允許變(biàn)動(dòng)±0.1反(fǎn)復(fù)調(tiáo)整(zhěng)一次（校(xiào)零(líng)，校標）。
4，測量(liáng)RB值：把探(tàn)頭(tóu)移至放(fàng)有試樣(yàng)的黑(hēi)色工(gōng)作(zuò)陶(táo)瓷板上，顯示(shì)器所顯示的數值即為RB值(zhí)。
5，測量RW值：把探(tàn)頭(tóu)移至(zhì)放(fàng)有(yǒu)試(shì)樣的白(bái)色工作(zuò)陶瓷板(bǎn)上，顯示(shì)器(qì)所(suǒ)顯示的數(shù)值(zhí)即為(wéi)RW值。
6，計(jì)算(suàn)求得(dé)對(duì)比率(shuài) 對(duì)比(bǐ)率（遮蓋率）= RB/RW×100%
C84-Ⅲ反射率測(cè)定儀(yí)使(shǐ)用方法為塗(tú)料，顏料，油墨等化(huà)工行業貫徹執(zhí)行(háng)標準(zhǔn)，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)而研製(zhì)的儀(yí)器。它(tā)可用(yòng)於漆膜遮(zhē)蓋力(lì)的測定。
工作原理：
本儀器(qì)由探(tàn)頭，主體，標準板（黑白(bái)各(gè)一塊），工(gōng)作陶(táo)瓷(cí)板(bǎn)(黑白各(gè)兩(liǎng)塊)等(děng)組成。 探頭(tóu)采(cǎi)用(yòng)0°照射(shè)，漫(màn)反射接(jiē)收的原理。當(dāng)試(shì)樣的反射光作(zuò)用(yòng)於(yú)矽(guī)光(guāng)電池表(biǎo)麵產(chǎn)生(shēng)電訊(xùn)號輸入到直流(liú)放(fàng)大(dà)器(qì)進行放(fàng)大(dà)，並予(yú)以(yǐ)讀數顯示.
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